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詳細(xì)摘要： QRM QRM-MicroBar測(cè)試卡，QRM-MicroBar測(cè)試模體,Micro-CT高分辨率測(cè)試卡 技術(shù)參數(shù)：內(nèi)含兩個(gè)3mm×3mm硅質(zhì)芯片，分...
產(chǎn)品型號(hào)：QRM-MicroBar所在地：深圳市更新時(shí)間：2025-03-21 在線留言
詳細(xì)摘要： 德國QUART公司高分辨測(cè)試卡（X射線檢測(cè)用線對(duì)卡）、二度星卡（2度星卡，焦斑卡）是醫(yī)院、疾控中心、第三方檢測(cè)單位用來檢測(cè) X射線機(jī)等透視成像設(shè)備的X射線的分辨...
產(chǎn)品型號(hào)：Type 81/Type 38所在地：深圳市更新時(shí)間：2025-03-21 在線留言
詳細(xì)摘要： JIMA RT RC-04分辨率測(cè)試卡是一種用于設(shè)置和測(cè)試微焦 X 射線系統(tǒng)的光刻生產(chǎn)的測(cè)試模式。它支持 0.1 µm 和 10 µm 之間...
產(chǎn)品型號(hào)：RT RC-04所在地：深圳市更新時(shí)間：2025-03-19 在線留言
詳細(xì)摘要： JIMA RT RC-05B JIMA分辨率測(cè)試卡是一款采用新半導(dǎo)體光刻技術(shù)制作的微型分辨率測(cè)試卡。它用于校準(zhǔn)和監(jiān)控系統(tǒng)分辨率，確保微焦點(diǎn)或納米焦點(diǎn)X射線檢測(cè)系...
產(chǎn)品型號(hào)：RT RC-05B所在地：深圳市更新時(shí)間：2025-03-18 在線留言
詳細(xì)摘要： 分辨率測(cè)試卡由日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì) （JIMA） 精心打造，為 CT 和 X 射線系統(tǒng)提供zuixian 進(jìn)的校準(zhǔn)。它們可提高各種分辨率下的成像精度，對(duì)于高質(zhì)...
產(chǎn)品型號(hào)：RT CT-01B所在地：深圳市更新時(shí)間：2025-03-18 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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